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展示中國品牌實力 天遠三維攜新品亮相2019德國Control展

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【摘要】:
2019年5月7日,為期4天的2019 Control Show 在德國斯圖加特拉開帷幕。天遠三維攜帶自主研發的多款新品,重磅亮相海外市場。在Control展首次揭開面紗的便攜式光學CMM新品FreeScan Trak及FreeTrak Probe,由天遠團隊自主研發完成,并擁有全部核心技術。

 

2019年5月7日,為期4天的2019 Control Show 在德國斯圖加特拉開帷幕。天遠三維攜帶自主研發的多款新品,重磅亮相海外市場。

Control展是全球范圍內第一流的質量保證、質量監督專業展覽會,是國際質量保證行業的窗口,也是中國制造通往世界的最佳市場平臺。

在Control展首次揭開面紗的便攜式光學CMM新品FreeScan TrakFreeTrak Probe,由天遠團隊自主研發完成,并擁有全部核心技術。

 

 

海外媒體爭相對新品進行相關報道

 

先來一段視頻過過癮!

 

 

FreeScan Trak便攜式無線光學CMM掃描系統具有卓越的計量性能,與傳統測量瓶頸相比較,在測量速度和精度方面都有著顯著的優勢。該系統在使用時無需貼點及噴粉,真正節省了用戶時間。

系統搭載了靈活的無線激光3D掃描模塊,用戶在測量過程中,可自由移動掃描儀或樣件的位置,特別適用于復雜工業環境中針對中/大型樣件的檢測需求,并且設備可以在不穩定的環境中勝任工作,測量精度不易受環境影響。

無線3D掃描模塊還可單獨使用,這種既可分體,又可組合的“全面兼顧”,使得FreeScan Trak便攜式無線光學CMM掃描系統為全球用戶帶來了理想的3D測量解決方案。

 

FreeScan Trak系統優勢

無線連接:讓操作者擺脫數據線對操作空間的制約和對操作過程的干擾,讓掃描測量更自由

無需貼點、噴粉:該系統在使用時無需貼點或噴粉,真正節省了用戶時間

計量級測量:FreeScan Trak系統,精度最高可達0.030 mm; 在15立方米的測量空間中,體積精度可達0.1 mm

穩定可靠:動態參考功能讓操作者在測量過程中可以自由移動光學跟蹤儀和物體,保障測量過程不受外部環境影響以及測量結果的高準確度

 

 

FreeTrak Probe便攜式無線CMM光學測量系統由光學跟蹤模塊和測量筆組成,其優勢在于可滿足多元化的場景使用需求。由于在使用過程中無需固定,從而有效的解決了大空間的測量需求,避免了因坐標轉站來擴大測量范圍所出現的精度損失與人工誤差,因此測量效果可形容為“大空間,無死角”測量終端。

FreeTrak Probe操作簡單,測量速度快,并且不易受環境變化的影響,適用于車間以及各類復雜工況。

 

FreeTrak Probe系統優勢

計量級測量:FreeTrak Probe系統,精度最高可達0.020 mm;在15立方米的測量空間中,體積精度可達0.1 mm

動態參考:實時進行掃描和探測設備與被測部件上目標點之間的動態參考

即時檢測:可在探針測量時獲得CAD誤差報告

無線連接:探頭和跟蹤器之間沒有電纜以實現超強的多功能性

 

展會現場

 

 

 

 

 

 

公车上被猛烈的进出